Diseño de sistema de medición de parámetros reales en diodos

Díaz Arévalo, Arnold Andrés Felipe; Robayo Acosta, Daniel Felipe

Diseño de sistema de medición de parámetros reales en diodos

dc.contributor.advisor	Angarita Lores, Carlos Eduardo
dc.contributor.advisor	Sabogal Gomez, Ernesto
dc.contributor.author	Díaz Arévalo, Arnold Andrés Felipe
dc.contributor.author	Robayo Acosta, Daniel Felipe
dc.date.accessioned	2024-12-03T15:10:22Z
dc.date.available	2024-12-03T15:10:22Z
dc.date.issued	2024-11
dc.description.abstract	Este proyecto aborda el problema de la dependencia exclusiva de los valores nominales proporcionados en los datasheets para diodos y transistores, los cuales pueden no reflejar con precisión su comportamiento real debido a factores como tolerancias de fabricación, condiciones ambientales y envejecimiento. Para solucionar esta limitación, se diseñó un sistema de medición capaz de obtener parámetros reales y críticos de estos dispositivos, como la tensión umbral en diodos, la ganancia de corriente en transistores BJT, el voltaje Gate-Source y la resistencia Drain-Source en encendido de transistores MOSFET. El sistema integra módulos que cumplen con los rangos y resoluciones necesarios para garantizar mediciones confiables y precisas en condiciones reales de operación. Entre las principales conclusiones, se destaca que el diseño propuesto permite caracterizar los componentes de forma más precisa que los valores teóricos, facilitando su integración en aplicaciones electrónicas. Además, se logró cumplir con los requerimientos establecidos, proporcionando una herramienta que contribuye al diseño de circuitos más estables y eficientes, mejorando la confiabilidad de los sistemas que dependen de dispositivos semiconductores. Este diseño representa un avance significativo hacia la mejora de la caracterización y el ajuste de componentes electrónicos en entornos prácticos.
dc.description.abstractenglish	This project addresses the problem of exclusive dependence on the nominal values provided in datasheets for diodes and transistors, which may not accurately reflect their actual behavior due to factors such as manufacturing tolerances, environmental conditions and aging. To solve this limitation, a measurement system was designed to obtain real and critical parameters of these devices, such as the threshold voltage in diodes, the current gain in BJT transistors, the Gate-Source voltage and the Drain-Source resistance in MOSFET transistors. The system integrates modules that meet the necessary ranges and resolutions to guarantee reliable and accurate measurements under real operating conditions. Among the main conclusions, it is highlighted that the proposed design allows characterizing the components more accurately than the theoretical values, facilitating their integration in electronic applications. In addition, the established requirements were met, providing a tool that contributes to the design of more stable and efficient circuits, improving the reliability of systems that depend on semiconductor devices. This design represents a significant advance towards improving the characterization and adjustment of electronic components in practical environments.
dc.description.degreelevel	Pregrado	spa
dc.description.degreename	Ingeniero Electrónico	spa
dc.format.mimetype	application/pdf
dc.identifier.instname	instname:Universidad El Bosque	spa
dc.identifier.reponame	reponame:Repositorio Institucional Universidad El Bosque	spa
dc.identifier.repourl	repourl:https://repositorio.unbosque.edu.co
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/20.500.12495/13543
dc.language.iso	es
dc.publisher.faculty	Facultad de Ingeniería	spa
dc.publisher.grantor	Universidad El Bosque	spa
dc.publisher.program	Ingeniería Electrónica	spa
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dc.rights	Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional	en
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dc.subject	Diodo
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dc.subject	Medición
dc.subject	Parámetros
dc.subject	Circuitos
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dc.subject.keywords	Diode
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dc.subject.keywords	Measurement
dc.subject.keywords	Parameters
dc.subject.keywords	Circuits
dc.title	Diseño de sistema de medición de parámetros reales en diodos
dc.title.translated	Design of a system to measure real parameters in diodes
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dc.type.local	Tesis/Trabajo de grado - Monografía - Pregrado	spa