Transiscope-medidor de características de transistores y diodos

Martínez, Diego Andrés

Transiscope-medidor de características de transistores y diodos

dc.contributor.advisor	Sabogal Gomez, Ernesto
dc.contributor.advisor	Puerto Acosta, Jorge Andrés
dc.contributor.author	Martínez, Diego Andrés
dc.date.accessioned	2024-12-03T15:30:42Z
dc.date.available	2024-12-03T15:30:42Z
dc.date.issued	2024-11
dc.description.abstract	La creciente escasez de chips y en general de componente de la microelectrónica en los últimos años ha llevado a las industrias a buscar proveedores alternativos, aumentando el riesgo de falsificaciones en la cadena de suministro de componentes electrónicos. En este proyecto se realizaron los diseños y simulaciones de circuitos de medición para obtener los valores rales de Voltaje forward en diodos, Voltaje de ruptura en diodos Zener, VCE(sat) y hFE en transistores NPN, y VGS(th) y RDS(on) en transistores MOSFET. Estos circuitos permiten comparar las propiedades eléctricas reales de los dispositivos con los valores especificados en las hojas de datos, con el fin de mejorar la calidad y confiabilidad de los componentes usados en las industrias. Los diseños se basaron en el comportamiento teórico de los componentes y en la información de sus hojas de datos, sin embargo, algunos dispositivos fueron reemplazados por otros componentes similares para poder obtener resultados en las simulaciones. Los resultados obtenidos se compararon con al menos tres referencias por características, logrando un error mínimo de 0.075%, lo que demuestra la precisión de los circuitos de medición diseñados.
dc.description.abstractenglish	The growing shortage of chips and microelectronic components in recent years has led industries to seek alternative suppliers, increasing the risk of counterfeit components in the electronics supply chain. In this project, measurement circuit designs and simulations were carried out to obtain the real values of forward voltage in diodes, breakdown voltage in Zener diodes, VCE(sat) y hFE in NPN transistors, y VGS(th) y RDS(on) in MOSFET transistors. These circuits allow for the comparison of the actual electrical properties of the devices with the values specified in the datasheets, with the aim of improving the quality and reliability of components used in industry. The designs were based on the theoretical behavior of the components and the information in their datasheets; however, some devices were replaced with similar components to obtain results in the simulations. The results obtained were compared with at least three references per characteristic, achieving a minimum error of 0.075%, which demonstrates the accuracy of the designed measurement circuits.
dc.description.degreelevel	Pregrado	spa
dc.description.degreename	Ingeniero Electrónico	spa
dc.format.mimetype	application/pdf
dc.identifier.instname	instname:Universidad El Bosque	spa
dc.identifier.reponame	reponame:Repositorio Institucional Universidad El Bosque	spa
dc.identifier.repourl	repourl:https://repositorio.unbosque.edu.co
dc.identifier.uri	https://hdl.handle.net/20.500.12495/13547
dc.language.iso	es
dc.publisher.faculty	Facultad de Ingeniería	spa
dc.publisher.grantor	Universidad El Bosque	spa
dc.publisher.program	Ingeniería Electrónica	spa
dc.relation.references	[1] L. N. Robert Boylestad, Electronic Devices, Prentice Hall, 1996.
dc.relation.references	[2] A. Sedra, Circuitos Microelectrónicos, Mexico D.F.: Oxford University, 1998.
dc.relation.references	[3] Rohde & Schwarz, «Medindo o RDS(on) com osciloscópios de alta definição», Rohde & Schwarz, [En línea]. Available: https://www.rohde-schwarz.com/br/aplicativos/medindo-o-rds-on-com-oscilosc-pios-de-alta-defini-o-cartao-de-aplicativo_56279-112064.html#:~:text=O%20RDS(on)%20dos%20MOSFETs,o%20RDS(on).
dc.relation.references	[4] KEYSIGHT, «The Ultimate Diode Testing Guide», KEYSIGHT, [En línea]. Available: https://www.keysight.com/used/us/en/knowledge/guides/how-do-you-test-diode.
dc.relation.references	[5] F. Escribano, «El Multimrtro», 3C-Tres Carriles, [En línea]. Available: https://www.trescarriles.com/el-multimetro.html#:~:text=Comprobaci%C3%B3n%20hFE&text=Esta%20configuraci%C3%B3n%20del%20mult%C3%ADmetro%20no,el%20mismo%20factor%20beta%20%CE%B2.
dc.relation.references	[6] DUOYI, «DUOYI DY294 Multifunction Digital Transistor Analyzer Tester Semiconductor Diode Triode Reverse AC DC Voltage Capacitance FET», DUOYI, [En línea]. Available: https://www.duoyitool.com/products/duoyi-dy294-multifunction-digital-transistor-analyzer-tester-semiconductor-diode-triode-reverse-ac-dc-voltage-capacitance-fet?srsltid=AfmBOoqdYNq7LutYvNwbbSyH6yWgr26RYZCeT7PepDmK6A-v39yIQX7o. [Último acceso: 06 11 2024].
dc.relation.references	[7] D. a. C. Z. A. a. C. J. a. G. J. R. B. a. L. I. DiMase, «Traceability and risk analysis strategies for addressing counterfeit electronics in supply chains for complex systems», Risk Analysis, vol. 36, nº 10, pp. 1834-1843, 2016.
dc.relation.references	[8] A. International, «Counterfeit chips a problem as global shortage increases semiconductor fraud», 2022. [En línea]. Available: https://www.asminternational.org/smst/results/-/journal-content/56/10192/49218564/NEWS/.
dc.relation.references	[9] B. Toohey, «Detecting and Removing Counterfeit Semiconductors in the U.S. Supply Chain», Semiconductor Industry Association, 2011.
dc.relation.references	[10] Universidad de Costa Rica, «Semiconductores: lo que tenés que saber y que sin duda te afectará,» Universidad de Costa Rica, 27 03 2024. [En línea]. Available: https://www.ulatina.ac.cr/articulos/semiconductores-lo-que-tenes-que-saber-y-que-sin-duda-te-afectara#:~:text=Los%20semiconductores%20son%20los%20cimientos,crucial%20en%20nuestro%20mundo%20interconectado.
dc.relation.references	[11] AS, «Semiconductor Testing and Quality Assurance: Ensuring Reliable Electronics», VYRIAN, 26 07 2023. [En línea]. Available: https://www.vyrian.com/blog/semiconductor-testing-and-quality-assurance/.
dc.relation.references	[12] C. Hsu, «Quality Control Secrets in the Semiconductor Industry», JUSDA-EN, 07 01 2024. [En línea]. Available: https://www.jusdaglobal.com/en/article/quality-control-secrets-semiconductor-industry/#:~:text=Importance%20of%20Quality%20Control,-Image%20Source%3A%20unsplash&text=By%20implementing%20robust%20quality%20control,and%20reduce%20manufacturing%20costs%20sig.
dc.relation.references	[13] G. Haley, «Hidden Costs And Tradeoffs In IC Quality», Semiconductor Engineering, 08 02 2024. [En línea]. Available: https://semiengineering.com/hidden-costs-and-tradeoffs-in-ic-quality/.
dc.relation.references	[14] L. Electronics, «Parámetros clave del diodo Schottky», 2022. [En línea]. Available: https://es.electronic-diode.com/news/key-parameters-of-schottky-diode-65431321.html.
dc.relation.references	[15] FLUKE, «¿Qué es un diodo?», Glen A, 2020. [En línea]. Available: https://www.fluke.com/es-us/informacion/blog/electrica/que-es-un-diodo.
dc.relation.references	[16] B. Flores, «Electrónica Básica: Diodos», 2019. [En línea]. Available: https://agelectronica.blog/2019/05/28/electronica-basica-diodos/\#:~:text=Voltaje%20de%20conducci%C3%B3n%20directa%20(Vf,al%20potencial%20de%20la%20barrera.
dc.relation.references	[17] A. B. a. M. J. a. A. Gortari, «Zener», 2010.
dc.relation.references	[18] C. Reig, «Característica del diodo Zener», 2002.
dc.relation.references	[19] R. B. Bardia, Circuitos y Dispositivos Electronicos, Lima: Edicions UPC, 1999.
dc.relation.references	[20] N. Thomas, «Corte y saturación del transistor», Programación y electrónica, 10 08 2019. [En línea]. Available: https://programacionyelectronica.weebly.com/inicio/corte-y-saturacion-del-transistor.
dc.relation.references	[21] R. Anjanappa, «¿Cómo se calcula la ganancia de un transistor de unión bipolar?», Linked In, [En línea]. Available: https://www.linkedin.com/advice/0/how-do-you-calculate-gain-bipolar-junction-xpf8f?lang=es&originalSubdomain=es#:~:text=La%20relaci%C3%B3n%20entre%20Ic%20e,a%20partir%20de%20otros%20par%C3%A1metros.
dc.relation.references	[22] Electronica, «MOSFET: Qué Es, Funcionamiento y Aplicaciones», Revista Española de Electrónica, 28 08 2024. [En línea]. Available: https://www.redeweb.com/actualidad/mosfet/.
dc.relation.references	[23] T. WEB, «What are MOSFETs? – MOSFET Threshold Values, ID-VGS Characteristics, and Temperature Characteristics», Tech Web, 06 04 2017. [En línea]. Available: https://techweb.rohm.com/product/power-device/si/5277/.
dc.relation.references	[24] S. Thornton, «Metal Oxide Field Effect Transistor: What is RDS(on)?», 05 05 2017. [En línea]. Available: https://www.microcontrollertips.com/mosfets-what-is-rdson-faq/.
dc.relation.references	[25] P. H. a. W. Hill, The Art of Electronics, Art Electronics, 1980.
dc.relation.references	[26] S. Keeping, «Ventajas de la modulación por frecuencia de pulsos para convertidores CC/CC de conmutación de voltaje», DigiKey, 25 03 2014. [En línea]. Available: https://www.digikey.com/es/articles/the-advantages-of-pulse-frequency-modulation-for-dc-dc-switching-voltage-converters.
dc.relation.references	[27] J. A. M. Medrano, Fundamentos De Medición Y Control De Procesos, United States: Palibrio, 2017.
dc.relation.references	[28] Universidad del Pais Vasco, «Potenciómetro digital», Universidad del Pais Vasco, [En línea]. Available: https://www.ehu.eus/es/web/tutorial-myrio/30.-potetziometro-digitala#:~:text=Un%20potenci%C3%B3metro%20digital%20es%20un,posici%C3%B3n%20de%20la%20perilla%20virtual.
dc.relation.references	[29] ONSEMI, «LM317 - Voltage Regulator – Adjustable Output, Positive 1.5 A», ONSEMI, 2021. https://www.alldatasheet.com/view.jsp?Searchword=Lm317%20datasheet&gad_source=1&gclid=Cj0KCQiAuou6BhDhARIsAIfgrn6VU4NtdrQinZlarblu6T44Zg2XLmB0kNlRkK0YTKuJJgQ_Wc8KhhcaAjkAEALw_wcB.
dc.relation.references	[30] Arduino Forum, «Help with AD5293 Digital Potentiometer», Arduino Forum, 2011. [En línea]. Available: https://forum.arduino.cc/t/help-with-ad5293-digital-potentiometer/65598.
dc.relation.references	[31] B. Wilson, «La ecuación del diodo», 2020. [En línea]. Available: https://espanol.libretexts.org/Ingenieria/Introducci%C3%B3n_a_la_electr%C3%B3nica_f%C3%ADsica_(Wilson)/01%3A_Conductores%2C_Semiconductores_y_Diodos/1.09%3A_La_ecuaci%C3%B3n_del_diodo.
dc.relation.references	[32] A. Aranzabal, «Electrónica básica», Universidad Pedagógica Veracruzana, jtpalgoc@sb.ehu.es, 2001.
dc.relation.references	[33] ONSEMI, «https://www.onsemi.com/download/data-sheet/pdf/2n3903-d.pdf», 2012. [En línea]. Available: https://www.onsemi.com/download/data-sheet/pdf/2n3903-d.pdf.
dc.relation.references	[34] ONSEMI, «2N3903 - General Purpose Transistors», 2012. [En línea]. Available: https://www.onsemi.com/download/data-sheet/pdf/2n3903-d.pdf.
dc.relation.references	[35] T. –. N. P. Transistor, «STMicroelectronics», 09 2004. [En línea]. Available: https://www.st.com/resource/en/datasheet/tip31c.pdf.
dc.relation.references	[36] ". –. Z. D. Semiconductors, «Vishay», 10 2024. [En línea]. Available: https://www.vishay.com/docs/85816/1n4728a.pdf.
dc.relation.references	[37] VISHAY, «1N4001», 29 04 2020. [En línea]. Available: https://www.vishay.com/docs/88503/1n4001.pdf.
dc.relation.references	[38] Arduino Stack Exchange, «Arduino Bluepill STM32 spi doesn't work», Arduino Stack Exchange, 2023. [En línea]. Available: https://arduino.stackexchange.com/questions/92981/arduino-bluepill-stm32-spi-doesnt-work.
dc.rights	Atribución-NoComercial-CompartirIgual 4.0 Internacional	en
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dc.rights.local	Acceso abierto	spa
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dc.subject	Transistores
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dc.subject	Caracterización de parámetros
dc.subject	Calidad
dc.subject	Confiabilidad
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dc.subject.keywords	Trasistors
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dc.subject.keywords	Parameter characterization
dc.subject.keywords	Quality
dc.subject.keywords	Reliability
dc.title	Transiscope-medidor de características de transistores y diodos
dc.title.translated	Transiscope-transistor and diodes characteristics meter
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