Diseño de un sistema de prueba para componentes semiconductores
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2025-01
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Resumen
En la actualidad en la industria electrónica, uno de los principales problemas es la variabilidad en la calidad de los componentes semiconductores, como diodos, transistores y MOSFET. Esto se ha vuelto más complicado con la presencia de componentes falsificados o defectuosos, que no cumplen con las especificaciones indicadas por los fabricantes, estos componentes problemáticos pueden generar fallos o un rendimiento deficiente en los circuitos, lo cual es especialmente crítico en aplicaciones donde la precisión es esencial.
Para enfrentar este desafío, se diseño un sistema automatizado que permite medir los parámetros clave de estos componentes, como la tensión directa de los diodos o la ganancia de los transistores.
Al comparar estos valores con los datos del fabricante, se puede identificar rápidamente si un componente es defectuoso o falso. De esta manera, el sistema no solo mejora la calidad y fiabilidad de los circuitos, sino que también ayuda a garantizar que los componentes utilizados sean realmente los adecuados para cada aplicación.
Descripción
Abstract
In the electronics industry, one of the main challenges is the variability in the quality of semiconductor components, such as diodes, transistors, and MOSFETs. This problem has become more complicated with the presence of counterfeit or defective components that do not meet the specifications provided by manufacturers. These problematic components can lead to failures or subpar performance in circuits, which is particularly critical in applications where precision is essential.
To tackle this issue, an automated system was developed to measure the key parameters of these components, such as the forward voltage of diodes or the gain of transistors.
By comparing these values with the manufacturer’s datasheets, the system can quickly identify if a component is defective or counterfeit. In this way, the system not only improves the quality and reliability of circuits but also ensures that the components used are truly the right ones for each application.
Palabras clave
Semiconductores, Medición, Verificación, Datasheets
Keywords
Semiconductors, Measurement, Verification, Datasheets