Sistema de análisis experimental y verificación de parámetros en semiconductores: enfoque en diodos, transistores BJT y transistores MOSFET
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2025-01
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Resumen
El documento presenta el diseño de un sistema de verificación orientado a evaluar distintos parámetros específicos de componentes electrónicos, entre ellos transistores BJT en configuraciones NPN y PNP, además de diversos tipos de diodos, como Zener, rectificadores, LEDs y Schottky, así como transistores MOSFET de canal P y canal N. El propósito del sistema fue proporcionar a los usuarios de estos componentes una herramienta capaz de obtener mediciones precisas de los parámetros esenciales de cada uno de ellos.
El sistema se diseñó con el enfoque de colocar un dispositivo de prueba, medirlo y generar la gráfica precisa muy parecida a la que se genera cuando se observa las hojas de datos de cada uno de estos componentes. Esta característica busca proveer una representación visual al usuario, facilitando así la comparación entre sus mediciones reales y las especificaciones de fábrica. Con ello, el sistema pretendió proveer una forma sencilla y completa para que cualquier persona pueda entender que características tiene su componente específico.
Descripción
Abstract
This document presents the design of a verification system focused at evaluating various specific parameters of electronic components, including BJT transistors in NPN and PNP configurations, as well as distinct types of diodes, such as Zener, rectifiers, LEDs, and Schottky, in addition to MOSFET transistors with P-channel and N-channel. The objective was to provide users of these components with a tool capable of obtaining accurate measurements of each component's most important parameters.
The system was designed with an approach that allowed placing a test device, measuring it, and generating an accurate graph like those found in the datasheets for each of these components. This feature aimed at providing users with a visual representation, thus facilitating the comparison between their real measurements and the factory specifications. In doing so, the system offered a simple and comprehensive way for anyone to understand the characteristics of their specific component.
Palabras clave
Medición, Análisis, Componentes electronicos, Parámetros, Semiconductores
Keywords
Measurement, Analysis, Electronic components, Parameters, Semiconductors